Прогноз полноты теста
/ отношение числа проверенных неисправностей к общему числу неисправностей/
по исходной схеме |
|
по вторичной схеме с тестопригодными изменениями |
Мы проведем тщательный анализ тестопригодности схемы и для каждого бита - линии схемы, которой приписано значение "0" или "1", подсчитаем оценки: оценки управляемости со стороны входов и оценки наблюдаемости со стороны выходов. По ним построим две гистограммы распределения битов по уровням оценок от 0 до МАХ.
слева направо от лучшего ==> к худшему коричневая гистограмма для управляемости показывающая насколько трудно управлять битом со стороны входов | |
справа налево к худшему <== от лучшего синяя гистограмма для наблюдаемости , показывающая насколько трудно наблюдать бит со стороны выходов | |
пунктирные линии показывают пороги, ниже которых автоматическая генерация теста (ATPG) остается возможной и потому оценки считаются хорошими | |
предсказание полноты теста основывается на области тестопригодности , обведенной на Диаграмме ярко-красной линией внутри которой обе оценки и управляемость и наблюдаемость хорошие | |
иначе говоря, тестопригодность - это возможность автоматической генерации теста (ATPG) |
Если схема тестопригодная - мы сгенерируем тест высокого качества с умеренными затратами.
Если схема плохая, мы укажем, какие изменения можно внести для ее улучшения. Для этого мы промоделируем возможные изменения и выберем субоптимальные. После внесения изменений схема станет тестопригодной.