TwCAD строит тесты автоматически
- 81.9% - полнота теста, контролирующего одиночные константные неисправности
контактов микросхем и разъёмов (прогноз 82.9%)
- 92.6% достижимость нулей и единиц на линиях схемы и входах для
верификации логики
- есть шины: 1. Плохая внутренняя с двумя
источниками шин
2) двунаправленный порт
- 100% управляемость и 89.5% наблюдаемость
- 3.35% непроверяемых неисправностей - проблемы с избыточностью схемы
- в тесте 44 набора, 19 сегментов, в среднем 44/19=2.32 набора
Контролирующий тест обладает важными потребительскими свойствами
- контролируют 426 неисправностей из 538, список
которых приводится
- качество теста не высокое 50.8%, но могло бы
быть и лучше 81.9%, однако ряд проблем этому
препятствуют
- последовательности наборов свободны от
рисков сбоя и гонок по построению
- тест сегментирован, то есть подразделён на
короткие последовательности наборов, которые
можно подавать на тестируемую схему независимо
от других сегментов теста
Поясняются препятствия к достижению идеального 100% качества,
устранимые только разработчиком:
- 18 непроверяемых неисправностей - см. протокол
Все характеристики обработанной схемы и
спроектированных тестов, а также сами тесты
видны из выводимого протокола. Основные
характеристики схемы таковы
- 807f0 - имя схемы
- 11 типов микросхем
- 19 микросхем среднего уровня интеграции
- 52 входа
- 14 выходов
- 55 элементов памяти
- 19 уровней срабатывания
- 269 M-S структур
Основные характеристики спроектированного
теста, контролирующего одиночные константные
неисправности таковы:
- 538 - всего неисправностей контактов микросхем
и разъёмов
- 426 или 79.18% провереннных неисправностей от
общего числа 538 неисправностей
- 94 или 17.47% непровереннных неисправностей от общего числа
538
неисправностей
- 18 или 3.35% непроверямых неисправностей от
общего числа 538 неисправностей
- КПД Tw-CAD при генерации теста составил 71.9%