Плохой прогноз (14%) для p806 оправдался - сгенерирован тест с низкой полнотой 54.0% при высокой избыточности 38%

TwCAD строит все виды тестов автоматически, используя оригинальный метод генерации тестов

• 54.0%(прогноз 13.8%) - полнота теста , контролирующего одиночные константные неисправности контактов микросхем и разъёмов, всего лишь 4 набора, 2 сегмента
• 50.3% - рейтинг верификации логики по достижимости нулей и единиц на линиях схемы и входах
• нет шин - нет контратеста шин
• 43.0% управляемость, 76.2% наблюдаемость и 29.1 тестопригодность
• 37.95% непроверяемых неисправностей - очень серьёзные проблемы с избыточностью схемы

Контролирующий тест обладает следующими потребительскими свойствами

• проверяет лишь 150 неисправностей из 448
• полнота теста низкая 53.96%, но могло бы быть и хуже 13.8%
• последовательности наборов свободны от рисков сбоя и гонок по построению
• тест сегментирован - по 2 набора

Поясняются препятствия к достижению идеального 100% качества, в данном случае устранимые только разработчиком

• 170 непроверяемых неисправностей - протокол прилагается, перечислять - слишком много
• масса недостижимых значений (49.7%) при верификации, например
  "0" на контактах
  00-D1:3, 571XЛ4-D27:3, 571XЛ4-D27:5, 571XЛ4-D27:7, 295-D7:12, 257-D13:7, 257-D12:4, 08-D2:11, 10-D41:12,
  1533ИP31-D15:26, 571XЛ5-D18:13, 193-D17:13, 193-D17:13, 1533ИP31-D15:25, 00-D22:3, 193-D16:13, 1533ИP31-D15:24, 193-D16:13, 571XЛ5-D26:13, 193-D16:13, 1533ИP31-D15:11, 193-D16:13, 193-D16:13, 1533ИP31-D15:22, 1533ИP31-D15:11, 1533ИP31-D15:11,
  1533ИP31-D15:11, 1533ИP31-D15:18, 1533ИP31-D15:17, 1533ИP31-D15:16, 1533ИP31-D15:11, 1533ИP31-D15:11, 1533ИP31-D15:12, 1533ИP31-D15:11, 571XЛ5-D18:11, 297-D20:4, 297-D20:9,
  297-D21:4, 297-D21:9, 20-D25:6, 00-D22:6, 10-D24:12, 10-D24:6, 571XЛ5-D18:3, 571XЛ5-D18:5, 571XЛ5-D18:7, 571XЛ5-D18:9,
  571XЛ5-D26:9, 571XЛ5-D26:11;
  "1" на контактах 295-D7:12,
  08-D2:3, 74-D4:6, 257-D13:9, 257-D13:12, 08-D2:11, 257-D12:7, 257-D12:12,
  1533ИP31-D15:26, 08-D10:3, 107-D14:3, 571XЛ5-D18:13, 107-D8:5, 193-D16:13,
  1533ИP31-D15:24, 193-D16:13, 193-D16:13, 1533ИP31-D15:11, 193-D16:13, 1533ИP31-D15:22, 1533ИP31-D15:11,
  1533ИP31-D15:11, 1533ИP31-D15:11, 1533ИP31-D15:18, 1533ИP31-D15:17, 1533ИP31-D15:16, 1533ИP31-D15:11, 1533ИP31-D15:11, 1533ИP31-D15:12, 297-D20:4, 297-D20:9, 297-D21:4, 297-D21:9, 571XЛ5-D18:3, 571XЛ5-D18:5

Все характеристики обработанной схемы и спроектированных тестов, а также сами тесты видны из выводимого протокола.

Основные характеристики схемы

• П806 - имя схемы
• 18 типов микросхем
• 28 микросхем среднего уровня интеграции
• около 1480 вентилей [67 элементов памяти + 81 комбинационных подсхем]
• 22 входа
• 20 выходов
• 67 элементов памяти
• 47 уровней срабатывания
• 264 M-S структур
• Обратные связи есть: 180 вентилей max

Основные характеристики спроектированного теста, контролирующего проверяемые одиночные константные неисправности

• 448 - всего неисправностей контактов микросхем и разъёмов
• 150 или 53.96% провереннных неисправностей от числа проверяемых 278=150+128 неисправностей
• от общего числа 448 неисправностей
  • 150 или 33.48% провереннных
  • 128 или 28.57% непровереннных
  • 170 или 37.95% непроверямых
• КПД Tw-CAD при генерации теста составил 24.3%

Понятно, что в этой схеме много проблем и она нуждается в доработке
1) по протоколу верификации
2) по проблеме избыточности
3) после этого - по рекомендациям по улучшению тестопригодности
Тестопригодность мы понимаем как прогноз полноты теста, достижимой в процедуре ATPG из TwCAD. Ясно, что она скорее всего изменится по сравнению с рекомендациями на данный момент.
Поэтому приводятся не сами точки дополнительного управления, а только данные по улучшению тестопригодности по мере внесения изменений в схему, чтобы понять динамику влияния изменений на тестопригодность схемы.
Характер предлагаемого варианта рекомендаций по тестопригодности, разумные изменения
1. Дополнительная установка в "1"
2. Дополнительная установка в "1"
3. Дополнительный сброс в "0"
4. Дополнительный сброс в "0"
5. Мультиплексор с дополнительным входом данных
6. Мультиплексор с дополнительным входом данных
7. Дополнительная установка в "1"
8. Мультиплексор с дополнительным входом данных
9. Дополнительный сброс в "0"
10.Мультиплексор с дополнительным входом данных
11.Дополнительная установка в "1"
12.Мультиплексор с дополнительным входом данных
13.Дополнительный выход
14.Мультиплексор с дополнительным входом данных
---> Мультиплексоры имеют общий управляющий вход.
Тестопригодность как планируемая полнота теста будет улучшаться по мере внесения 14 изменений, как показано в таблице и на диаграмме от уровня 14% в исходной схеме до почти идеальных 99.6%.

доп.упр.	0	1	2	3	4	5	6	7	8	9	10	11	12	13	14
полнота%	14	37	40	74	85	90	92	93	94	95	95	96	97	98	99.6%