|
|
Прогноз полноты теста
/ отношение числа проверенных неисправностей к общему числу неисправностей/
 |
по исходной схеме
|
|
по вторичной схеме с тестопригодными изменениями
|
Мы проведем тщательный анализ тестопригодности схемы и для каждого бита -
линии схемы, которой приписано значение "0" или "1", подсчитаем оценки:
оценки управляемости со стороны входов и оценки наблюдаемости со стороны
выходов. По ним построим две гистограммы распределения битов по уровням
оценок от 0 до МАХ.
|
слева направо от лучшего ==>к худшему коричневая гистограмма для управляемости показывающая насколько трудно управлять битом со стороны входов
|
|
справа налево к худшему <== от лучшего синяя гистограмма длянаблюдаемости, показывающая насколько трудно наблюдать бит со стороны выходов
|
|
пунктирные линии показывают пороги, ниже которых автоматическая генерация теста (ATPG) остается возможной и потому оценки считаются хорошими
|
|
предсказание полноты теста основывается на области тестопригодности
, обведенной на Диаграмме ярко-красной линией
внутри которой обе оценки и управляемость и наблюдаемость
хорошие |
|
иначе говоря,
тестопригодность - это возможность автоматической генерации теста (ATPG) |
Если схема тестопригодная - мы сгенерируем тест высокого качества с умеренными затратами.
Если схема плохая, мы укажем, какие
изменения можно внести для ее улучшения. Для этого мы промоделируем возможные изменения и выберем субоптимальные. После внесения изменений схема станет тестопригодной.
|
. |
