|
|
 |
|
|
|
Новая технология проектирования тестового обеспечения
по принципу Design for Test & Test for Design
/ тестопригодное проектирование & тест для проекта
/
|
|
Tw-CAD даст Вам полную определенность для Вашей схемы, сгенерировав необходимое тестовое обеспечение:
- тест, быстро и качественно, если схема достаточно тестопригодна
- тестопригодные изменения схемы, делающие генерацию теста возможной, если схема нетестопригодна
|
|
|
"Тестопригодна ли схема?" - Ответ на этот вопрос основан на сравнении рассчитанных оценок тестопригодности схемы с пороговым значением, при котором заведомо возможна автоматическая генерация теста в Tw-CAD
|
|
|
Чтоб достичь приемлемой полноты теста для нетестопригодной схемы, надо ее лишь изменить согласно полученным от Tw-CAD рекомендациям
|
|
|
Отчет по тестопригодности поможет спланировать качество теста, предсказав полноту теста до и после изменений
|
|
|
Tw-CAD берет на себя всю трудоемкую рутинную работу по созданию тестового обеспечения, давая возможность разработчику творчески осмысливать проект
|
Следуя этой технологии, Вы
- посылаете только список цепей схемы (первичный Netlist)
- получаете прогноз качества теста и тестопригодные изменения
- добавляете несколько входов, где мы укажем, чтоб улучшить управляемость, и несколько выходов, где мы укажем, чтоб улучшить наблюдаемость; эти дополнения - плата за тестопригодность
- посылаете список цепей схемы, измененной для облегчения тестирования (
вторичный Netlist),
который Вы дополнили входами и выходами там, где мы рекомендовали
- получаете автоматически сгенерированный тест верификации
- получаете перечень нарушений условий единственности источника сигнала в шине, если они имеются
- получаете тест высокого качества для проверки Вашей схемы в заказанном формате
Следуя этой технологии, мы
- вычислим оценки управляемости и наблюдаемости Вашей схемы ( design for test - DFT-анализ)
- сравним оценки с уровнем, при котором возможна автоматическая генерация теста ( ATPG) в Tw-CAD и предскажем полноту теста (такому подходу нет аналогов в имеющихся САПР)
- в случае необходимости сгенерируем (ATRG) тестопригодные изменения (дополнительные входы, чтоб лучше управлять состоянием схемы; дополнительные выходы, чтоб лучше наблюдать реакцию схемы), что в целом должно улучшить полноту теста до прогнозируемого уровня ( обычные САПР, анализируя тестопригодность, указывают трудности, не говоря, как их преодолеть) и тем более вряд ли прогнозируют полноту теста
- предскажем полноту теста до и после внесения тестопригодных изменений (этого нет в обычном анализе тестопригодности других САПР)
- сгенерируем тест высокого качества ( TFD - test for design ) при условии, что в схеме сделаны необходимые тестопригодные изменения и верификация проекта прошла успешно (ATPG - редкость в обычных САПР особенно в САПР на базе IBM-PC)
- по желанию выполним автоматическую верификацию проекта и проверку каждой шины на несостоятельность (покажем условия, нарушающие единственность источника сигнала в шине - этого нет в других САПР)
- как и все, выведем тест в формате Вашей САПР или тестера
Пример здесь *
Закажите тестовое обеспечение в TestWard Lab *
|
. |
|
|
